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  • PCTS-2000熱釋電系數測試系統
    PCTS-2000熱釋電系數測試系統

    更新時間:2023-10-11

    型號:PCTS-2000

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    PCTS-2000熱釋電系數測試系統采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流,計算得到本征熱釋電系數。
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  • PCTS-2000H高溫熱釋電測試系統
    PCTS-2000H高溫熱釋電測試系統

    更新時間:2023-10-11

    型號:PCTS-2000H

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    PCTS-2000H高溫熱釋電測試系統采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流,計算得到本征熱釋電系數,適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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  • PCTS-3000E中低溫偏置電場下熱釋電測試系統
    PCTS-3000E中低溫偏置電場下熱釋電測試系統

    更新時間:2023-10-11

    型號:PCTS-3000E

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    PCTS-3000E中低溫偏置電場下熱釋電測試系統采用直接測量法,在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下,測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流,計算得到場致熱釋電系數,適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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  • PCTS-3000中低溫熱釋電系數測試系統
    PCTS-3000中低溫熱釋電系數測試系統

    更新時間:2023-10-11

    型號:PCTS-3000

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    PCTS-3000中低溫熱釋電系數測試系統采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流,計算得到本征熱釋電系數,適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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  • PCTS-2000E偏置電場下熱釋電系數測試系統
    PCTS-2000E偏置電場下熱釋電系數測試系統

    更新時間:2023-10-11

    型號:PCTS-2000E

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    PCTS-2000E偏置電場下熱釋電系數測試系統采用直接測量法,在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下,測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流,計算得到場致熱釋電系數,適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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  • PCTS-3000H高低溫熱釋電系數測試系統
    PCTS-3000H高低溫熱釋電系數測試系統

    更新時間:2023-10-11

    型號:PCTS-3000H

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    PCTS-3000H高低溫熱釋電系數測試系統采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流,計算得到本征熱釋電系數,適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測試。
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